加速寿命试验(ALT)

时间：2026-05-26 18:21:00 浏览：824次

加速寿命试验(ALT)

加速寿命试验(ALT)只对元器件、材料和工艺方法进行，用于确定元器件、材料及生产工艺的寿命。其目的不是暴露缺陷，而是识别及量化在使用寿命末期导致产品损耗的失效及其失效机理。有时产品的寿命很长，为了给出产品的寿命期，加速寿命试验必须进行足够长的时间。

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